X 射線光電子能譜儀 （XPS） 系統

分析選項包括革命性的復合型離子源、一個用于將空氣敏感樣品從手套箱轉移到系統的真空傳遞模塊，以及用于收集 ARXPS 數據的傾斜模塊。配備 Thermo Scientific™ Avantage 數據系統（全面的表面分析軟件系統），K-Alpha+ 具有一系列的軟件功能，專為優化數據解讀、數據報告和可用性而設計。K-Alpha XPS 系統可滿足經驗豐富的 XPS 分析員和新手的要求，將高性能單色化 XPS 和濺射深度剖析與智能自動化和直觀控制結合在一起。

強大的性能

可選面積能譜分析

濺射深度剖析

微聚焦單色器

快照采集

高分辨率化學狀態能譜分析

絕緣樣品分析

定量化學成像

無以倫比的易用性

采集——能譜、圖像、剖析、線掃描

解讀—— 元素和化學狀態鑒定

處理—— 定量、分峰擬合、實時剖析顯示、能譜圖像處理、PCA、相分析、TFA、NLLSF、PSF 扣除、光學/XPS 圖像疊加

報告—— 自動生成報告且可輕松導出到其他軟件包

控制——所有硬件都通過 Avantage 軟件界面進行控制

Avantage Indexer——數據存檔索引

審計跟蹤記錄

系統性能記錄

按需校準

*的遠程操控

主要特點

分析器—— 180° 雙聚焦半球型分析器，配備 128 通道檢測器

X 射線源—— Al Ka 微聚焦單色器，可變光斑尺寸（30-400 µm，以 5 µm 為步長）

離子槍—— 能量范圍 100-4000 eV

荷電補償——雙束源

樣品處理——4 軸樣品臺、60 x 60 mm 樣品區域、20 mm 大樣品厚度

真空系統——2 x 260 L/s 渦輪分子泵，用于進樣室和分析室

可選配件——Thermo Scientific™ MAGCIS™復合型離子源、真空傳遞模塊、用于 ARXPS 的傾斜模塊、樣品偏壓模塊。